Semiconductor Final Test Logistics and Product Dispositioning Systems-Reference-Cited by-同舟云学术

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Semiconductor Final Test Logistics and Product Dispositioning Systems

Published:1982-09 Issue:5 Volume:26 Page:605-612
ISSN:0018-8646
Container-title:IBM Journal of Research and Development
language:
Short-container-title:IBM J. Res. & Dev.

Author:

Burgess Robert M.,Koens Kathleen B.,Pignetti Emil M.

Publisher

IBM

Subject

General Computer Science

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5288520/5390469/05390480.pdf?arnumber=5390480

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Multi-Chip Module Test and Diagnostic Methodology;IBM Journal of Research and Development;1983-01

2. Semiconductor Manufacturing Technology at IBM;IBM Journal of Research and Development;1982-09

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