Chemical Characterisation of NIST Silicate Glass Certified Reference Material SRM 610 by ICP-MS, TIMS, LIMS, SSMS, INAA, AAS and PIXE

Author:

Rocholl Alexander B.E.,Simon Klaus,Jochum Klaus Peter,Bruhn Frank,Gehann Roland,Kramar Utz,Luecke Werner,Molzahn Michael,Pernicka Ernst,Seufert Michael,Spettel Bernhard,Stummeier Jens

Publisher

Wiley

Subject

Geochemistry and Petrology,Geology

Reference32 articles.

1. Determination of lead, uranium, thorium, and thallium in silicate glass standard materials by isotope dilution mass spectrometry;Barnes;Analytical Chemistry,1973

2. Funkenquellen-massenspektrometrische Analyse des NBS-SRM 610 (3 mm) Standards;Bergholz;Fresenius Zeitschrift für Analytische Chemie,1974

3. Bruhn F. 1995 Kombinierte Spurenelement-Mikroanalysen und Kathodolumineszenz-Untersuchungen: Entwicklung einer Meβmethodik für die Bochumer Protonenmikrosonde (PIXE) und Fallstudien aus der Sedimentgeologie Ph.D. Thesis Ruhr-University Bochum (FRG)

4. Determination of trace concentration of boron and uranium in glass by the nuclear track technique;Carpenter;Analytical Chemistry,1972

5. Analytical electron microscopy

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