A Reduction Method of Photon Shot Noise on CMOS Image Sensor Based on Local Brightness Distribution

Author:

Kitamura Junichi1,Katsuma Hiroaki1,Nishimura Toshihiro1

Affiliation:

1. Graduate School of Information, Production and systems, Waseda University

Publisher

Institute of Electrical Engineers of Japan (IEE Japan)

Subject

Electrical and Electronic Engineering

Reference20 articles.

1. (1) A. El. Gamal and H. Eltoukhy : “CMOS image sensor”, IEEE Circuit & Devices Magazine, Vol. 21 (2005-5/6)

2. (2) 米本和也:「CCD/CMOSイメージ.センサの基礎と応用」,CQ出版 (2003-8)

3. (3) H. Sumi, S. Kobayashi, M. Morimoto, S. Sugimoto, and T. Ise : “Detailed Circuit Simulation during Switching Transient of GTO circuit”, IEEE, pp. 11-16 (2003-10)

4. (4) 鬼頭伸一郎.洪 博哲:「ISO15739に対応したDSCノイズ評価ツール」, KONIKA MINOLTA Technology Report, Vol. 2 (2005)

5. (5) C. Jung, M. H. Izadi, M. L. Haye, G. H. Chapman, and K. S. Karin : “Noise Analysis of Fault Tolerant Active Pixel Sensors”, The 2005 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (2005)

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