Phase-Change Correction in Film-Thickness Measurements by Multiple-Beam Feco Fringes
Author:
Publisher
The Optical Society
Subject
General Engineering
Reference5 articles.
1. Resolution Limits in Multiple-beam Interferometry
2. Precise Method for Measuring the Absolute Phase Change on Reflection
3. Multiple-Beam Fringes of Equal Chromatic Order Part IV Use of Multilayer Films
4. Phase Shift Effects in Fringes of Equal Chromatic Order
5. Obtaining Low Orders of Interference in Measuring Film Thicknesses by Multiple Beam Interferometry
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1. Thickness of Monolayers of the Fatty Acids by Multiple Beam Interferometry;Applied Optics;1971-09-01
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