Optically enhanced sensitivity of external electro-optic polymer probing system
Author:
Publisher
The Optical Society
Reference14 articles.
1. Electro‐optic sampling of high‐speed silicon integrated circuits using a GaAs probe tip
2. Invasiveness of LiTaO/sub 3/ and GaAs probes in external E-O sampling
3. Optoelectronic techniques for ultrafast device network analysis to 700 GHz
4. Sampling and real-time methods in electro-optic probing system [LSI testing]
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1. Sensitivity enhancement of electro-optic polymer probing system using photo-isomerization and Fabry-Pérot effects;Review of Scientific Instruments;2013-07
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