Porównanie modeli przestrzeni barw CIE CAM i CIE LAB w celu lepszej automatyzacji optycznej kontroli jakości
-
Published:2024-04-15
Issue:4
Volume:1
Page:255-258
-
ISSN:0033-2097
-
Container-title:PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY
-
language:en
-
Short-container-title:ELECTROTECHNICAL REVIEW
Publisher
Wydawnictwo SIGMA-NOT, sp. z.o.o.