Compound Semiconductors: Characterization by Chemical Etching

Author:

Weyher J.L.

Publisher

Elsevier

Reference46 articles.

1. Direct Observation of Dislocations;Amelinckx,1964

2. A review of etching and defect characterization of gallium arsenide substrate material;Stirland;Thin Solid Films,1976

3. Defect characterization by etching, optical microscopy and x-ray topography;Miller,1980

4. Principles of chemical etching-the art and science of etching crystals;Heimann,1982

5. Thermally induced changes in dislocations and associated defects in bulk GaAs;Stirland,1990

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