The Atomic Structure and Atomic Layer Compositional Analysis of Thin Solid Films Using the Time-of-Flight Atom-Probe Field Ion Microscopy
Author:
Publisher
Elsevier
Reference35 articles.
1. Surface segregation and diffusion kinetics study of a Pt‐Ir alloy using the time‐of‐flight atom‐probe field ion microscope
2. Field promoted and surface catalyzed formation of H3 and NH3 on transition metal surfaces: A pulsed-laser imaging atom-probe study
3. Range profiles of low-energy (100 to 1500 eV) implanted3He and4He atoms in tungsten I. Experimental results
4. Application of field-ion microscopy techniques to metallurgical problems
5. Direct observation of atomic processes: Silicon adatoms on tungsten surfaces
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