Analysis of the Charge Trapping Kinetics
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Publisher
Elsevier
Reference71 articles.
1. Effect of hole scattering on their capture by the traps near Si–SiO2 interface;Adamchuk;Sov. J. Phys. Chem. Mech. Surf.,1988
2. Electron trap activation in thermal SiO2;Adamchuk;Phys. Status Solidi a,1990
3. Injection spectroscopy of localized states in thin insulating layers on semiconductor surfaces;Afanas’ev;Prog. Surf. Sci.,1994
4. Deep and shallow electron trapping in the buried oxide layer of SIMOX structures;Afanas’ev;J. Electrochem. Soc.,1994
5. Degradation of the thermal oxide of the Si/SiO2/Al system due to vacuum ultraviolet irradiation;Afanas’ev;J. Appl. Phys.,1995
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