Metrology of thin-film photodetectors
Author:
Publisher
Elsevier
Reference34 articles.
1. Principles of Optics: Electromagnetic Theory of Propagation, Interference and Diffraction of Light;Born,1980
2. Irreversibility and generalized noise;Callen;Phys. Rev.,1951
3. Solution-processed semiconductors for next-generation photodetectors;de Arquer;Nat. Rev. Mat.,2017
4. Relationship between radiative-transport theory and Maxwell’s equations in dielectric media;Fante;J. Opt. Soc. Am.,1981
5. Accurate characterization of next-generation thin-film photodetectors;Fang;Nat. Photonics,2019
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