BJT induced dark current in CMOS image sensors
Author:
Funder
Shandong University
Publisher
Elsevier BV
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Hardware and Architecture,Software
Reference9 articles.
1. Reduction of dark current in CMOS image sensor pixels using hydrocarbon-molecular-ion-implanted double epitaxial Si wafers;Onaka-Masada;Sensors,2020
2. Analog Integrated Circuit Design;Carusone,2012
3. A study on photon effect to image plane;Seo,2017
4. Photon generation in forward-biased silicon p-n junctions;Ong;IEEE Electron. Device Lett.,1983
5. Dark current blooming in pinned photodiode CMOS image sensors;Belloir;IEEE Trans. Electron. Dev.,2017
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