On the identification of modular test requirements for low cost hierarchical test path construction

Author:

Makris Yiorgos,Orailoglu Alex

Publisher

Elsevier BV

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Hardware and Architecture,Software

Reference23 articles.

1. Hierarchical test generation using precomputed tests for modules;Murray;IEEE Trans. Comput. Aided Des.,1990

2. CHEETA: Composition of hierarchical sequential tests using ATKET;Vishakantaiah,1993

3. Hierarchical test generation under architectural level functional constraints;Lee;IEEE Trans. Computer-Aided Des. Integrated Circuits Syst.,1997

4. Test generation for gigahertz processors using an automatic functional constraint extractor;Tupuri,1999

5. TRANSPARENT: A system for RTL testability analysis, DFT guidance and hierarchical test generation;Makris,1999

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