Ion-induced interface layer formation in W/Si and WRe/Si multilayers

Author:

Kessels M.J.H.,Verhoeven J.,Tichelaar F.D.,Bijkerk F.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Surfaces, Coatings and Films,Surfaces and Interfaces,Condensed Matter Physics

Reference16 articles.

1. X-ray microscopy

2. M.J.H. Kessels, PhD thesis, Interfaces in soft X-ray multilayer mirrors, Chapter 2, University Twente, 2005

3. Atomic spectrometry update. X-ray fluorescence spectrometry

4. E. Spiller, Soft X-ray optics, SPIE (Society of Photo-optical Instrumentation Engineers), 1994

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