Effect of irradiation and annealing performed with bias voltage applied across the coupling capacitors on the interstrip resistance of ATLAS ITk silicon strip sensors

Author:

Kroll J.ORCID,Allport P.P.,Chisholm A.,Dudáš D.,Fadeyev V.ORCID,George W.ORCID,Gonella L.ORCID,Kopsalis I.ORCID,Kvasnička J.,Latoňová V.ORCID,Lomas J.ORCID,Martinez-Mckinney F.,Mikeštíková M.ORCID,Shi X.,Tůma P.,Ullan M.ORCID,Unno Y.ORCID

Funder

U.S. Department of Energy

Univerzita Karlova v Praze

España Ministerio de Ciencia e Innovación

Ministerstvo Školství, Mládeže a Tělovýchovy

Publisher

Elsevier BV

Subject

Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics

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