Interferometric method for simultaneous characterization of retardance and fast axis of a retarder
Author:
Funder
Gobierno de España Ministerio de Ciencia e Innovación
Ministerio de Ciencia e Innovación
Banco Santander
Universidad Complutense de Madrid
Publisher
Elsevier BV
Reference18 articles.
1. Polarized light and the Mueller matrix approach;Gil,2022
2. Determination of the fast axis with an infrared spectrometer for quartz and mica waveplates;Li;Appl Opt,1990
3. Birefringence measurements of liquid crystals;Wu;Appl Opt,1984
4. Polarized light and optical systems;Chipman,2018
5. Characterization of retardance spatial variations over the aperture of liquid-crystal variable retarders;Ramírez;Appl Opt,2021
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