AFM-NSOM Nano-Polarimeter: Wide-ranging sensing device for synchronized scanning

Author:

Zigman Yair,Kusnetz BinyaminORCID,Belhassen JeremyORCID,Karsenty AviORCID

Publisher

Elsevier BV

Reference29 articles.

1. Research on double-probe, double-and triple-tip effects during atomic force microscopy scanning;Chen;Scanning: J Scan Microscopie,2004

2. Imaging modes of atomic force microscopy for application in molecular and cell biology;Dufrêne;Nat Nanotechnol,2017

3. Towards augmenting tip-enhanced nanoscopy with optically resolved scanning probe tips;Belhassen;Adv Photon Nexus,2023

4. Field Guide to Polarization;Collett,2005

5. A high-precision polarimeter;Hauger;Nucl Instrument Method Phys Res A,2001

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