1. A. P. Malozemoff, S. Fleshler, M. Rupich, C. Thieme, X. Li, etal, Supercond. Sci. Technol. 21 (2008) 034005. [2] Y. Iijima, K. Kakimoto, M. Kimura, K. Takeda, and T. Saitoh, IEEE Trans. Appl. Supercond. 11 (2001) 2816.
2. Y., Y., Xie, A., Knoll, Y., Chen, Y., Li, X., Xiong, et, al., Physica, C., 426-431 (2005) 849.
3. A. Gupta, R. Jagannathan, E.I. Cooper, E.A. Giess, J.I. Landman, etal, Appl. Phys. Lett. 52 (1988) 2077.
4. P. C. McIntyre, M.J. Cima, J.A. Smith, R.B. Jr. Hallock, M.P. Siegal, and J. M. Phillipes, J. Appl. Phys. 71 (1992) 1868.
5. M. W. Rupich, X. Li, C. Thieme, S. Sathyamurthy, S. Fleshler, et al, Supercond. Sci. Technol. 23 (2010) 014015.