Grain growth in a texture, studied by means of electron-emission microscopy-Reference-Cited by-同舟云学术

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Grain growth in a texture, studied by means of electron-emission microscopy

Published:1951-02 Issue:2 Volume:17 Page:117-IN5
ISSN:0031-8914
Container-title:Physica
language:en
Short-container-title:Physica

Author:

Rathenau G.W,Baas G

Publisher

Elsevier BV

Subject

General Engineering

Reference19 articles.

1. Strain Induced Grain Boundary Migration in High Purity Aluminum

2. The Orientation Dependence of the Rate of Grain Boundary Migration

3. Rekristallisation, verformter Zustand und Erholung;Burgers,1941

Cited by 20 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Introduction: History;Surface Microscopy with Low Energy Electrons;2014

2. Röntgentechnik;Landolt-Börnstein;2013

3. Bibliographie Nèerlandaise;Recueil des Travaux Chimiques des Pays-Bas;2010-09-02

4. Andere Abbildungsverfahren;Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden;1967

5. Orientation in extruded BeO;Journal of Nuclear Materials;1964-04

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