High-temperature Creep and Dislocation Structure of BCC Single Crystals

Author:

Myshlyaev M.M.,Khodos I.I.

Publisher

Elsevier

Reference5 articles.

1. Useful properties of dark-field electron images;Bell;Phys. Stat. Sol.,1965

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4. High Voltage Electron Microscopy;Thomas,1974

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Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

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2. STRAIN HARDENING AND DYNAMIC RECOVERY;Dislocation Modelling of Physical Systems;1981

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