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4. Un nouveau modèle de calcul pour la microanalyse par spectrometrie de Rayons X partiel: Application à l’analyse d’Echantillons homogènes;Pouchou;La Recherche Aérospatiale,1984
5. M. Coquerelle, P. Knappik, J.-C. Perrier, J. Phys. (Paris) 45 (C2) (1984) 84