1. Uehara, F.; Aritomo, K.; Shoda, A.; Hiki, S.; Okuyama, M.; Usui, Y.; Ooizumi, M.; Watanabe, K. PCT Int. Appl., 2003, WO2003027080.
2. Watanabe, K.; Ando, R.; Saito, K.-I; Kawamoto, R.; Shoda, A. PCT Int. Appl., 2000, WO2000018758.
3. Madhavan, G. R.; Venkateswarlu, A.; Rajagopalan, R.; Chakrabarti, R.; Misra, P.; Lohray, Braj, B.; Lohray, V. B.; Rao, P. B. Indian Pat. Appl., 2005, IN2001MA00568.
4. Herold, P.; Buehlmayer, P. Eur. Pat. Appl., 1991, EP407342.
5. Ku, T. W. F.; Lin, H.; Luengo, J. I.; Marquis, R. W., Jr.; Ramanjulu, J. M.; Trout, R.; Yamashita, D. S. PCT Int. Appl., 2007, WO2007062370.