Author:
Aizawa M.,Akiba Y.,Begay R.,Burward-Hoy J.,Chappell R.B.,Chi C.Y.,Chiu M.,Chujo T.,Crook D.W.,Danmura A.,Ebisu K.,Emery M.S.,Enosawa K.,Esumi S.,Ferrierra J.,Frawley A.D.,Griffin V.,Hamagaki H.,Hara H.,Hayano R.S.,Hayashi H.,Hemmick T.K.,Hibino M.,Higuchi R.,Hirano T.,Hoade R.,Hutter R.,Inaba M.,Jones K.,Kametani S.,Kato S.,Kennedy M.,Kikuchi J.,Kiyomichi A.,Koseki K.,Kurata-Nishimura M.,Kurita K.,Kuroki Y.,Matsumoto T.,Miake Y.,Miyamoto Y.,Moscone G.G.,Nagasaka Y.,Nishimura S.,Ono M.,Oyama K.,Raynis R.,Sakaguchi T.,Sakai S.,Sako H.,Salomone S.,Sato S.,Shigaki K.,Shimada T.,Suzuki-Nara M.,Tamai M.,Tanaka Y.,Tsuruoka H.,Urasawa S.,Ushiroda T.,Walker J.W.,Wang S.,Wintenberg A.L.,Wright L.W.,Yagi K.,Yokota Y.,Young G.R.
Subject
Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics