Characterization by diffuse X-ray scattering of damage in ion-implanted HgCdTe

Author:

Declémy A.,Renault P.O.

Publisher

Elsevier

Reference15 articles.

1. Electromigrationn in Se-doped Hg0.3Cd0.7Te crystals

2. C. Corbel, L. Baroux, L. Liskay, R. Triboulet, P. Hautojärvi and J. Mäkinen presented at the E-MRS 1995 Spring Meeting, Strasbourg, France.

3. J.C. Austin and B.K. Burger presented at the E-MRS 1995 Spring Meeting, Strasbourg, France.

4. Implantation effects on resonant Raman scattering in CdTe and Cd0.23Hg0.77Te

5. Specific behaviour of CdTe ion implantation damage

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