Microtomography of semiconductor crystals in the EBIC mode-Reference-Cited by-同舟云学术

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Microtomography of semiconductor crystals in the EBIC mode

Published:1990-06 Issue:1-4 Volume:103 Page:197-199
ISSN:0022-0248
Container-title:Journal of Crystal Growth
language:en
Short-container-title:Journal of Crystal Growth

Author:

Bondarenko I.E.,Likharev S.K.,Rau E.I.,Yakimov E.B.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Inorganic Chemistry,Condensed Matter Physics

Reference8 articles.

1. Charge collection scanning electron microscopy

2. Izv. Akad, Nauk SSSR;Zaitsev;Ser. Fiz.,1987

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. E-beam tomography of planar semiconductor structures;Materials Science and Engineering: B;1996-12

2. “Apparatus” electron beam microtomography in SEM;Physica Status Solidi (a);1995-07-16

3. COMPUTER PROCESSING OF EBIC SIGNALS;Le Journal de Physique IV;1991-12

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