Strain measurement in ultra-thin films using RHEED and X-ray techniques
Author:
Publisher
Elsevier
Reference64 articles.
1. Molecular beam epitaxy
2. Intensity oscillations for electron beams reflected during epitaxial growth of metals
3. The technology and physics of molecular beam epitaxy;Cho,1985
4. A review of the geometrical fundamentals of reflection high‐energy electron diffraction with application to silicon surfaces
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