Author:
Jaensch S.,Schmidt H.,Grundmann M.
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference3 articles.
1. TWO-DIMENSIONAL DOPANT PROFILING BY SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPY
2. S. Jaensch, H. Schmidt, Verfahren und Vorrichtung zur elektrischen Charakterisierung von Halbleiterbauelementen auf der Nanometerskala, AKZ: P 10 2005 006 928.2.
3. “Zeptofarad” (10−21 F) resolution capacitance sensor for scanning capacitance microscopy
Cited by
2 articles.
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