Vers un modèle développemental d’épigenèse probabiliste du trouble des conduites et des troubles externalisés de l’enfant et de l’adolescent
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Psychiatry and Mental health,Developmental and Educational Psychology,Pediatrics, Perinatology, and Child Health
Reference47 articles.
1. Probabilistic epigenesis;Gottlieb;Dev. Sci.,2007
2. Oppositional defiant and conduct disorder: a review of the past 10 years, part I;Loeber;J. Am. Acad. Child Adolesc. Psychiatry,2000
3. Trajectories of boys’ physical aggression, opposition, and hyperactivity on the path to physically violent and nonviolent juvenile delinquency;Nagin;Child Dev.,1999
4. Roskam I, Kinoo P, Nassogne M-C. L’enfant avec troubles externalisés du comportement: approche épigénétique et développementale. Neuropsychiatr. Enfance Adolesc 2007;55:204–213
5. Enfance et psychopathologie;Marcelli,2006
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1. L’erreur est humaine ? Intérêt des modèles chaotiques dans l’étude des troubles psychiatriques de l’adulte et du développement de l’enfant;L'Encéphale;2016-02
2. L’évaluation du potentiel suicidaire chez les enfants de moins de 14ans : modélisation intégrée;Neuropsychiatrie de l'Enfance et de l'Adolescence;2014-11
3. Bibliographie;Traitements des troubles du spectre autistique;2013-03-07
4. Un pédopsychiatre en neuropédiatrie: de l'apprentissage du bilinguisme. Une liaison bien spécifique. Conversion, épilepsie précoce et troubles du comportement complexes;La pédopsychiatrie de liaison;2012-10-25
5. Traumatismes et traces : données expérimentales;Neuropsychiatrie de l'Enfance et de l'Adolescence;2012-07
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