1. Characterization of W Films on Si and SiO2/Si Substrates by X-Ray Diffraction, AFM and Blister Test Adhesion Measurements
2. M. Boutry, Etude de microdispositifs de test pour la caractérisation des propriétés mécaniques de films minces métalliques Doctorate thesis, Univ. Paris XI, Orsay (1997).
3. R. Yahiaoui, Etude par microvibrometrie de films minces et de dispositifs micromécaniques Doctorate thesis, Univ. Paris XI, Orsay (2002).
4. K. Danaie, Menbranes micro-usinées par gravure chimique anisotrope: application à la caractérisation des films minces, Doctorate thesis, Univ. Paris VI, (2002).
5. Analysis of the accuracy of the bulge test in determining the mechanical properties of thin films