WITHDRAWN: A Review of Scanning Electron Microscopy in Near Field Emission Mode
Author:
Publisher
Elsevier
Reference58 articles.
1. The attraction of spin-polarized SEM;Allenspach;Physics World,1994
2. Spin-polarized secondary electrons from a scanning tunneling microscope in field emission mode;Allenspach;Applied Physics Letters,1989
3. Spin-polarized low energy electron microscopy of ferromagnetic thin films;Bauer;Journal of Physics D: Applied Physics,2002
4. Surface studies by scanning tunneling microscopy;Binnig;Physical Review Letters,1982
5. Scale invariance of a diodelike tunnel junction;Cabrera;Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics,2013
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