Quantitative aspects of ToF-SIMS analysis of metals and alloys in a UHV, O2 and H2 atmosphere-Reference-Cited by-同舟云学术

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Quantitative aspects of ToF-SIMS analysis of metals and alloys in a UHV, O2 and H2 atmosphere

Published:2024-06 Issue: Volume:49 Page:104408
ISSN:2468-0230
Container-title:Surfaces and Interfaces
language:en
Short-container-title:Surfaces and Interfaces

Author:

Ekar Jernej^ORCID,Kos Saša^ORCID,Kovač Janez

Funder

ARRS

Publisher

Elsevier BV

Reference57 articles.

1. Sputtering and ion formation;van der Heide,2014

2. Prologue: toF-SIMS—an evolving mass spectrometry of materials;Vickerman,2013

3. Instrumentation used in SIMS;van der Heide,2014

4. Time-of-flight mass analysers;Schueler,2013

5. The art of measurement;van der Heide,2014

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