Compact Models and the Road Leading to BSIM-BULK

Author:

Agarwal Harshit,Gupta Chetan,Chauhan Yogesh Singh,Hu Chenming

Publisher

Elsevier

Reference23 articles.

1. A compact IGFET charge model;Sheu;IEEE Transactions on Circuits and Systems,1984

2. A deep-submicrometer MOSFET model for analog/digital circuit simulations;Jeng,1988

3. The impact of gate-induced drain leakage current on MOSFET scaling;Chan,1987

4. A unified model for the flicker noise in metal-oxide-semiconductor field-effect transistors;Hung;IEEE Transactions on Electron Devices,1990

5. Characterizing a single hot-electron-induced trap in submicron MOSFET using random telegraph noise;Fang,1990

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