Exposure values for a 300 kV halfwave X-ray unit using three X-ray films of different film classes-Reference-Cited by-同舟云学术

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Exposure values for a 300 kV halfwave X-ray unit using three X-ray films of different film classes

Published:1998-02 Issue:1 Volume:31 Page:33-41
ISSN:0963-8695
Container-title:NDT & E International
language:en
Short-container-title:NDT & E International

Author:

Holmström J.-E.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Mechanical Engineering,Condensed Matter Physics,General Materials Science

Reference9 articles.

1. Über die Bestimmung der Röntgenbelichtungswerte für Stumpfstossverbindungen;Holmström;Schweissen und Schneiden,1965

2. Automatische Steuerung der Belichtungszeit mit Hilfe von Dosismessgeräten bei der Röntgenprüfung von Schweissnähten;Holmström;Materialprüfung,1969

3. Quantitative Radiographie von Schweissnähten;Holmström;Materialprüfung,1995

4. Quantitative Radiographie von Schweissnähten;Holmström;Materialprüfung,1995

5. An investigation of the practical thickness-latitude in the radiography of welded steel plates over 10 mm thick;Holmström;Insight. Non-destructive testing and condition monitoring,1995

Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Quality of Gamma- and X-Ray Inspections for Low Dimensional Parts;Journal of Nondestructive Evaluation;2014-01-22

2. An examination of mass thickness measurements with X-ray sources;Applied Radiation and Isotopes;2008-10

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