Epitaxial 3C-SiC nanocrystal formation at the SiO2/Si interface after carbon implantation and subsequent annealing in CO atmosphere
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Instrumentation,Nuclear and High Energy Physics
Reference7 articles.
1. Growth of Epitaxial β-SiC at the SiO[sub 2]/Si Interface as a Result of Annealing in CO
2. Epitaxial SiC Formation at the SiO2/Si Interface by C+ Implantation into SiO2 and Subsequent Annealing
3. Isolated SiC nanocrystals in SiO2
4. Production of large‐area single‐crystal wafers of cubic SiC for semiconductor devices
5. Rod-like defects in silicon: Coesite or hexagonal silicon?
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1. 3C-SiC nanocrystal growth on 10° miscut Si(001) surface;Thin Solid Films;2014-04
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