Fundamental parameters approach in the Rietveld method: a study of the stability of results versus the accuracy of the instrumental profile

Author:

Ortiz A.L,Cumbrera F.L,Sánchez-Bajo F,Guiberteau F,Caruso R

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Ceramics and Composites

Reference41 articles.

1. X-ray Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials;Klug,1974

2. The quantitative calculation of SiC polytypes from measurements of X-ray diffraction peak intensities;Ruska;J. Mater. Sci.,1979

3. Polytype distribution in silicon carbide;Frevel;J. Mater. Sci.,1992

4. A profile refinement method for nuclear and magnetic structures;Rietveld;J. Appl. Cryst.,1969

5. The Rietveld method in neutron and X-ray powder diffraction;Albinati;J. Appl. Cryst.,1982

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