Measurements of the channel-conductivity of Si-rectifiers
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Materials Chemistry,Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference10 articles.
1. Scheinwiderstand und Sperrkennlinien von Silizium-p-n-Übergängen mit Oberflächeninversionsschicht
2. Sperrkennlinien mit Oberflächendurchbruch von Silicium-p sp n-Gleichrichtern
3. Inversionsrandschichten auf p-Silicium
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3. Low-noise oxide passivated p+n silicon detectors;Nuclear Instruments and Methods;1972-05
4. Die messung von volumenströmen an siliziumgleichrichtern. Eine neue methode zur ausschaltung der oberflächeneinflüsse;Solid-State Electronics;1969-08
5. The reverse current of high-resistivity silicon surface-barrier counters;Nuclear Instruments and Methods;1966-09
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