Crystallographic structural analysis in atom probe microscopy via 3D Hough transformation

Author:

Yao L.,Moody M.P.,Cairney J.M.,Haley Daniel,Ceguerra A.V.,Zhu C.,Ringer S.P.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference26 articles.

1. Atom Probe Field Ion Microscopy;Miller,1996

2. Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level;Miller,2000

3. Spatial resolution in atom probe tomography;Gault;Microsc. Microanal.,2010

4. Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy;Gault;Appl. Phys. Lett.,2009

5. Three-dimensional atom-probe tomography: advances and applications;Seidman;Annu. Rev. Mater. Res.,2007

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