Modeling scanning near-field optical photons scattered from an atomic force microscope for quantum metrology
Author:
Funder
Institute of Science and Technology Austria
University of Tehran
Publisher
Elsevier BV
Subject
Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference30 articles.
1. Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM);Pohl,1991
2. Near-field optical-scanning microscopy;Dürig;J. Appl. Phys.,1986
3. Super-resolution fluorescence near-field scanning optical microscopy;Harootunian;Appl. Phys. Lett.,1986
4. Collection mode near-field scanning optical microscopy;Betzig;Appl. Phys. Lett.,1987
5. Breaking the diffraction barrier: optical microscopy on a nanometric scale;Betzig;Science,1991
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