Parameter retrieval of small particles in dark-field Fourier ptychography and a rectangle in real-space ptychography
Author:
Funder
Horizon 2020 Marie Skłodowska-Curie Actions
Publisher
Elsevier BV
Subject
Instrumentation,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference54 articles.
1. Beugung im inhomogenen Primärstrahlwellenfeld. I. Prinzip einer Phasenmessung von Elektronenbeungungsinterferenzen;Hoppe;Acta Crystallogr. Sect. A,1969
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Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Notes and References;Principles of Electron Optics, Volume 3;2022
2. Fringe analysis approach for imaging surface undulations on technical surfaces;Optics Express;2021-09-27
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