Modeling and simulation in atom probe tomography
Author:
Publisher
Elsevier BV
Subject
Mechanical Engineering,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics,General Materials Science
Reference16 articles.
1. Atom-probe Tomography: The Local Electrode Atom Probe;Miller,2014
2. Field-ion Microscopy;Hren,1968
3. The simulation of FIM desorption patterns;Moore;Philos. Mag. A,1981
4. A computer-controlled time-of-flight atom-probe field-ion microscope for the study of defects in metals;Hall;J. Phys. E: Sci. Instrum.,1977
5. Determination of nanosecond high-voltage pulse shapes at the surface of needle emitters;Panitz;Rev. Sci. Instrum.,1976
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