Induced damage during STEM-EELS analyses on acrylic-based materials for Stereolithography

Author:

Valencia L.M.ORCID,de la Mata M.,Herrera M.,Delgado F.J.,Hernández-Saz J.,Molina S.I.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Polymers and Plastics,Mechanics of Materials,Condensed Matter Physics

Reference65 articles.

1. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis;Pennycook,2011

2. Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science;Williams,2009

3. Scanning electron microscopy;Erdman,2019

4. STEM tools for semiconductor characterization: beyond high-resolution imaging;de la Mata;Nanomaterials,2022

5. Electron microscopy of polymers;Michler,2008

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