1. N. Tanabe, T. Matsuki, S. Saitoh, T. Takeuchi, S. Kobayashi, T. Nakajima, Y. Maejima, Y. Hayashi, K. Amanuma, T. Hase, Y. Miyasaka and T. Kunio, 1995 Symp. on VLSI Techn. Digest of Tech. Papers (1995) p. 123.
2. H. Koike, T. Otuki, T. Kimura, M. Fukuma, Y. Hayashi, Y. Maejima, K. Amanuma, N. Tanabe, T. Matsuki, S. Saito, T. Takeuchi, S. Kobayashi, T. Kunio, T. Hase, Y. Miyasaka, N. Shohata and M. Takeda, 1996 ISSCC Tech. Digest (1996) p. 368.
3. S. Onishi, K. Hamada, K. Ishihara, Y. Ito, S. Yokoyama, J. Kudo and K. Sakiyama, 1994 IEDM Tech. Digest (1994) p. 843.
4. K. Torii, H. Kawakami, H. Miki, K. Kushida, M. Itoga, Y. Goto, T. Kumihashi, N. Yokoyama, M. Moniwa, K. Shoji, T. Kaga and Y. Fujisaki, Proc. 8th Int. Symp. Integ. Ferroelectrics (1996), to be published.
5. K. Torii, S. Saito and Y. Ohji, Jpn. J. Appl. Phys. 33 (1994) 5287.