Electrical switching and morphological studies on Si15Te84Cu1 thin film

Author:

Roy Diptoshi,Jagannatha K.B.,Das Chandasree

Publisher

Elsevier BV

Subject

General Medicine

Reference17 articles.

1. Rapid‐phase transitions of GeTe‐Sb2Te3pseudobinary amorphous thin films for an optical disk memory

2. Structural transformations of Ge2Sb2Te5 films studied by electrical resistance measurements

3. S. Lai, T.Lowrey, OUM—A180nmNonvolatileMemoryCellElement Technology for Stand Alone and Embedded Applications. Session 36.5, IEDM Tech. Dig. (2001).

4. S. Lai, Current status of the phase-change memory and its future. IEDM Tech. Dig. (2003), p. 255.

5. Recent development in phase change memory;Bez,2004

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Manifestation of intermediate phase in Cu doped Si-Te glasses;Journal of Non-Crystalline Solids;2020-03

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