Author:
Inami K.,Abe K.,Abe K.,Abe R.,Abe T.,Adachi I.,Aihara H.,Akatsu M.,Asano Y.,Aso T.,Aulchenko V.,Aushev T.,Bakich A.M.,Ban Y.,Banas E.,Behera P.K.,Bizjak I.,Bondar A.,Browder T.E.,Chang P.,Chao Y.,Cheon B.G.,Chistov R.,Choi Y.,Choi Y.K.,Dong L.Y.,Eidelman S.,Eiges V.,Enari Y.,Fukunaga C.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Golob B.,Hagner C.,Handa F.,Hara T.,Hayashii H.,Hazumi M.,Higuchi I.,Higuchi T.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hou W.-S.,Huang H.-C.,Igaki T.,Iijima T.,Ishikawa A.,Ishino H.,Itoh R.,Iwasaki H.,Jang H.K.,Kang J.H.,Kang J.S.,Katayama N.,Kawai H.,Kawakami Y.,Kawamura N.,Kawasaki T.,Kichimi H.,Kim H.O.,Kim Hyunwoo,Kim J.H.,Kim S.K.,Korpar S.,Krokovny P.,Kulasiri R.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Lange J.S.,Leder G.,Lee S.H.,Li J.,Liventsev D.,Lu R.-S.,MacNaughton J.,Mandl F.,Matsuishi T.,Matsumoto S.,Matsumoto T.,Mitaroff W.,Miyake H.,Miyata H.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakadaira T.,Nakano E.,Nakao M.,Nam J.W.,Nishida S.,Nozaki T.,Ogawa S.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S.L.,Ostrowicz W.,Ozaki H.,Pakhlov P.,Park H.,Park K.S.,Peak L.S.,Perroud J.-P.,Piilonen L.E.,Rybicki K.,Sagawa H.,Saitoh S.,Sakai Y.,Satapathy M.,Schneider O.,Semenov S.,Senyo K.,Sevior M.E.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Singh J.B.,Soni N.,Stanič S.,Starič M.,Sugi A.,Sugiyama A.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki S.,Suzuki S.Y.,Takahashi T.,Takasaki F.,Tamai K.,Tamura N.,Tanaka J.,Tanaka M.,Taylor G.N.,Teramoto Y.,Tokuda S.,Tomura T.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Unno Y.,Uno S.,Varner G.,Varvell K.E.,Wang C.C.,Watanabe Y.,Yabsley B.D.,Yamada Y.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yusa Y.,Zhang Z.P.,Zhilich V.,Žontar D.