Masked autoencoder with dynamic multi-loss adaptation mechanism for few shot wafer map pattern recognition

Author:

Liang QiORCID,Zhou JianORCID,Wang Yonglin

Publisher

Elsevier BV

Reference73 articles.

1. An improved capsule network (WaferCaps) for wafer bin map classification based on DCGAN data upsampling;Abd Al Rahman;IEEE Trans. Semicond. Manuf.,2021

2. Improving textual emotion recognition based on intra-and inter-class variation;Alhuzali;IEEE Trans. Affect. Comput.,2021

3. Layer normalization;Ba,2016

4. Wafer classification using support vector machines;Baly;IEEE Trans. Semicond. Manuf.,2012

5. Beit: Bert pre-training of image transformers;Bao,2021

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