Author:
Hayasaka K.,Abe K.,Abe K.,Aihara H.,Asano Y.,Aushev T.,Bahinipati S.,Bakich A.M.,Bedny I.,Bitenc U.,Bizjak I.,Blyth S.,Bondar A.,Bozek A.,Bračko M.,Brodzicka J.,Browder T.E.,Chang M.-C.,Chang P.,Chen A.,Chen W.T.,Cheon B.G.,Chistov R.,Choi Y.,Choi Y.K.,Chuvikov A.,Dalseno J.,Dash M.,Eidelman S.,Enari Y.,Epifanov D.,Fratina S.,Gabyshev N.,Garmash A.,Gershon T.,Gokhroo G.,Haba J.,Hayashii H.,Hazumi M.,Hinz L.,Hokuue T.,Hoshi Y.,Hou S.,Hou W.-S.,Iijima T.,Imoto A.,Inami K.,Ishikawa A.,Iwasaki M.,Iwasaki Y.,Kang J.H.,Kang J.S.,Kataoka S.U.,Katayama N.,Kawai H.,Kawasaki T.,Khan H.R.,Kichimi H.,Kim H.J.,Kim J.H.,Kim S.K.,Kim S.M.,Krokovny P.,Kuo C.C.,Kuzmin A.,Kwon Y.-J.,Leder G.,Lee S.E.,Lee S.H.,Lesiak T.,Li J.,Lin S.-W.,Mandl F.,Matsumoto T.,Matyja A.,Mitaroff W.,Miyabayashi K.,Miyake H.,Miyata H.,Nagamine T.,Nagasaka Y.,Nakano E.,Nakao M.,Natkaniec Z.,Nishida S.,Nitoh O.,Ogawa S.,Ohshima T.,Okabe T.,Okuno S.,Olsen S.L.,Ostrowicz W.,Pakhlov P.,Palka H.,Park C.W.,Parslow N.,Pestotnik R.,Piilonen L.E.,Root N.,Sagawa H.,Sakai Y.,Sato N.,Schietinger T.,Schneider O.,Schümann J.,Senyo K.,Shibuya H.,Shwartz B.,Sidorov V.,Somov A.,Soni N.,Stamen R.,Stanič S.,Starič M.,Sumisawa K.,Sumiyoshi T.,Suzuki S.Y.,Tajima O.,Takasaki F.,Tamura N.,Tanaka M.,Teramoto Y.,Tian X.C.,Tsuboyama T.,Tsukamoto T.,Uehara S.,Uglov T.,Uno S.,Varner G.,Villa S.,Wang C.C.,Wang C.H.,Watanabe M.,Yamaguchi A.,Yamashita Y.,Yamauchi M.,Yang Heyoung,Yuan Y.,Zhang L.M.,Zhang Z.P.,Zhilich V.,Žontar D.