Depth and interface resolution in CdS/CuInSe2 heterostructures-Reference-Cited by-同舟云学术

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Depth and interface resolution in CdS/CuInSe2 heterostructures

Published:1990-04 Issue:3 Volume:28 Page:273-276
ISSN:0379-6787
Container-title:Solar Cells
language:en
Short-container-title:Solar Cells

Author:

Kazmerski L.L.,Nelson A.J.

Publisher

Elsevier BV

Subject

General Engineering

Reference23 articles.

1. Practical Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy,1983

2. Secondary Ion Mass Spectrometry;Benninghoven,1987

3. Microtopography of surfaces eroded by ion-bombardment

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Auger Electron Spectroscopy;Microanalysis of Solids;1994

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