Positive bias temperature instability of irradiated n-channel thin film transistors

Author:

Jelenković Emil V.,Kovačević Milan S.,Stupar Dragan Z.,Jha Shrawan,Bajić Jovan S.,Tong K.Y.

Funder

Research Grants Council of the Hong Kong Special Administrative Region, China

Research Committee of The Hong Kong Polytechnic University

Ministry of Education, Science and Technological Development of Republic of Serbia

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Metals and Alloys,Surfaces, Coatings and Films,Surfaces and Interfaces,Electronic, Optical and Magnetic Materials

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