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Crystal perfection by strain engineering: The case of Fe/V (001)

  • Published:2017-08 Issue: Volume:636 Page:608-614
  • ISSN:0040-6090
  • Container-title:Thin Solid Films
  • language:en
  • Short-container-title:Thin Solid Films

Author:

Droulias S.A.,Pálsson G.K.,Palonen H.,Hasan A.,Leifer K.,Kapaklis V.ORCID,Hjörvarsson B.,Wolff M.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Materials Chemistry,Metals and Alloys,Surfaces, Coatings and Films,Surfaces and Interfaces,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference29 articles.

1. Exchange Bias Effect of Ferro-/Antiferromagnetic Heterostructures;Radu,2008

2. Thin Film Analysis by X-ray Scattering;Birkholz,2006

3. One-Dimensional Dislocations. II. Misfitting Monolayers and Oriented Overgrowth;Frank,1949

4. Dislocations in strained-layer epitaxy: theory, experiment, and applications;Fitzgerald;Mater. Sci. Rep.,1991

5. Defects in epitaxial multilayers: i. Misfit dislocations;Matthews;J. Cryst. Growth,1974

Cited by 15 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

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