1. Le programme de recherche et de développement en nanométrologie;Ducourtieux,2003
2. Application d’une nouvelle conception d’architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique;Lahousse;Revue Française de Métrologie,2005
3. Gredja RD. Use and calibration of ultra precision axes of rotation with nanometer level metrology. PhD thesis, Penn State University; 2002.
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5. Application of capacitance techniques in sensor design;Heerens;Journal of Physics E – Scientific Instruments,1986