Untersuchungen zur atomspektroskopischen spurenanalyse in AIIIBV-halbleiter-mikroproben—IV☆Vergleich der bestimmung von tellurspuren im GaP und GaAs durch AAS, AFS und AES-Reference-Cited by-同舟云学术

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Untersuchungen zur atomspektroskopischen spurenanalyse in AIIIBV-halbleiter-mikroproben—IV☆Vergleich der bestimmung von tellurspuren im GaP und GaAs durch AAS, AFS und AES

Published:1979-08 Issue:8 Volume:26 Page:737-740
ISSN:0039-9140
Container-title:Talanta
language:en
Short-container-title:Talanta

Author:

Dittrich K.,Vogel H.

Publisher

Elsevier BV

Subject

Analytical Chemistry

Cited by 4 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Microanalysis of bismuth indium selenide thermoelectronic materials by X-ray fluorescence spectrometry with reference assays of indium;The Analyst;1993

2. Determination of lead in gallium arsenide by graphite furnace atomic absorption spectrometry with an ammonium chloride–chromium(III) chloride chemical modifier;J. Anal. At. Spectrom.;1991

3. Chapter 4m Fine, Industrial And Other Chemicals;Techniques and Instrumentation in Analytical Chemistry;1982

4. Untersuchungen zur atomspektroskopischen spurenanalyse in AIIIBV-halbleiter-mikroproben—VBestimmung von selen- und tellurspuren in anorganischen matrices durch aas mit direkter elektrothermischer verdampfung in einer graphitrohrküvette und durch aas im quarzrohratomisator nach hydriderzeugung—untersuchung der matrixeffekte und methodenvergleich;Talanta;1979-08

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